主要规格及技术指标

1.控制器
包含三个全数字锁相放大器，提供定量相位成像功能：－180°到＋180°全线性相位成像。
2.扫描器
1.2.1.三方向闭环扫描器，在软件中可以设置开环和闭环扫描。
1.2.2.★Z方向最大扫描范围≥15um。可进行2000Hz 正弦波方式高速定量力学测量，最大振幅≥3000nm。
1.2.3.★扫描器的设计为XY方向与Z方向分离式设计，XY方向采用样品扫描方式，Z方向采用针尖扫描方式以满足光学联用需求。
3.样品台
1.3.1.样品台为马达控制自动样品台。
1.3.2.样品台的XY方向移动范围均≥10mm，定位精度≤1微米。
1.3.3.★真空吸附方式固定放置≥50mm的培养皿，以获得高频率力学测量下更高的稳定性。
4.探针架
1.4.1.提供两个探针架针对溶液和空气不同实验条件。
1.4.2.探针架内必须包含直接驱动探针进行轻巧模式的压电陶瓷以实现直接驱动。
1.4.3.★探针架内部包含高精度温度传感器以获得样品上方探针区域温度数值。
5.仪器噪声水平
★XY方向闭环噪音水平≤0.15nm。Z方向噪音水平≤0.035nm。
6.隔振台
提供进口一体式防震平台，横向和纵向频率均达到0.5Hz。含一体式原装隔音罩。
7.光学联用要求
1.7.1.实时在线控制软件提供与光学图像的无缝整合，自动光学图像校准功能。
1.7.2.AFM系统不会影响任何正常的光学实验观察。
8.扫描模式
1.8.1.基本成像模式。需提供接触模式，轻敲模式，抬起模式，相位成像模式。
1.8.2.拓展成像模式。需提供开尔文显微镜成像、静电力成像模式。
1.8.3.智能扫描模式。系统能够在空气和溶液环境下，扫描过程自动的调节“setpoint”， “Gain”，“Scan Rate”。
1.8.4.★定量纳米力学模式。杨氏模量测试范围 1KPa~100 GPa，粘附力10 pN~10uN，通过峰值力轻敲模式反馈实时调整峰值反馈力的大小，控制精度小于50PN (反馈力大小可直接软件定量的调整)，力曲线速度不低于2000HZ。
1.8.5.高速力谱阵列模式。可实现最高每秒300次恒定速率力谱测量。

主要功能及特色

用途：
1.纳米刻蚀、纳米操控以及微芯片结构的表面性能测试；
2.微芯片活细胞、生物膜、纳米材料细微结构的高分辨观测；
3.分子相互作用的定量成像和力学表征。

主要附件及配置

100W汞灯荧光光源 1个;
工作物镜：4倍、10倍消色差物镜；20倍长焦消色差物镜（工作距离3.1mm）和40倍长焦消色差物镜1个;
红绿蓝三色荧光，DAPI, GFP, CY3, TXRED四组滤光片 1个;
CCD: 2048×2048像素，像素尺寸6.5μm;