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微晶电子衍射透射电镜

微晶电子衍射透射电镜

仪器编号

22DK001480

规格

场发射透射电子显微镜

生产厂家

日本电子

型号

JEMF200

制造国家

日本

分类号

放置地点

卫津路校区17教127127

出厂日期

2024-02-04

购置日期

2022-02-04

入网日期

2026-02-04

主要规格及技术指标

1. 电子枪：冷场发射电子源；
2. 放大倍数：TEM模式下，20k-2000k；STEM模式下，10k-150M;
3. TEM线分辨率：0.10 nm@200 kV，点分辨率：0.23 nm@200 kV；
4. STEM-HAADF点分辨率：0.136 nm@200 kV；

主要功能及特色

JEM-F200采用冷场发射枪，配有HAADF附件，可进行材料微观结构分析：拍摄TEM明场像、暗场像、高分辨像、电子衍射、二次电子像及扫描透射像；

主要附件及配置

无

公告名称	公告内容	发布日期