电镜中心现有的JEM-F200场发射透射电镜配置冷场发射电子枪，分辨率可达0.1 nm。该设备配置双探头超级能谱探测器（探头面积200 mm²），可在样品不同倾角下实现快速精准的微区成分分析；并配置多种原位样品杆，可进行原位电镜分析（功能和指标详见附件1）。为提高大型仪器设备开放共享使用效率，全面满足校内广大师生的需求，电镜中心现开展JEM-F200透射电镜用户培训，具体安排如下：

一、培训内容

场发射透射电镜（型号：JEM-F200）的操作技术。

二、培训人员

校内全体研究生，有透射电镜操作经验者优先。

三、培训方式

集中培训和单独上机操作相结合，经考核合格后，认证为电镜中心透射电镜F200的自测用户，可在非工作时间段预约测试，且享受测试费用优惠政策。

四、报名方式及时间安排

1.需征得导师同意，阅读并签署《学生导师知情书》（见附件2）；

2.请用微信扫描“JEM-F200透射电镜培训（2025-12）”二维码加入群聊，群昵称修改为姓名-学院名称-导师姓名；扫码如实填写“JEM-F200 培训信息收集表（2025-12）”。

3.报名截止时间12月10日，为保证培训效果本次限报名15人。

五、培训时间

根据报名情况微信群内另行通知（暂定于12月18日）。

六、联系方式

代艳竹 18092532753

                                                                                                                                                                                                                        电镜中心

                                                                                                                                                            2025年12月2日

附件1-仪器功能和技术参数（JEOL JEM-F200）.docx

附件2-学生导师知情同意书.docx